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如何测量固态硬盘的使用寿命？
来源：中国工控网 作者：
佚名
2022-03-28 16:09:07
当我们在选择一款固态硬盘(SSD)时，很多人会第一时间查询产品的容量、擦写次数、读取速度等常见各项参数外，还会担心所选择的固态硬盘使用...
当我们在选择一款固态硬盘(SSD)时，很多人会第一时间查询产品的容量、擦写次数、读取速度等常见各项参数外，还会担心所选择的固态硬盘使用寿命和保修时间。那么，究竟该如何正确地衡量一款SSD的使用寿命呢?小编有幸邀请到威刚工控的产品经理来为大家做本期的存储科普小课堂。
WAF (Write Amplification Factor, 写入放大值)是影响SSD寿命的关键指标之一，这一术语描述的其实是固态硬盘的目标写入值和实际写入值之间的一个倍数关系，写入放大数值越小，写入效益越好。
首先我们要理解固态硬盘的读写机制，固态硬盘的存储单元是由闪存颗粒组成的，想要覆盖数据，只能擦除然后写入，重复这一过程。
这些多次的操作，增加的写入数量和原始需要写入的数量的比值，就是所谓的写入放大。所以说，写入放大数值高，会损耗固态硬盘寿命。(固态硬盘闪存颗粒有着额定的P/E值，即最大的擦写次数，写入放大高，P/E损耗快，寿命低。)
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编辑：张甜甜
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